地下鉄切りつけ事件 “テストの点数悪いと叱責された”供述
東京メトロ南北線の東大前駅で起きた切りつけ事件で逮捕された容疑者が「小学生のころ、テストの点数が悪いと親に厳しく叱責された」という趣旨の供述をしていることが捜査関係者への取材で分かりました。警視庁は、親の教育方針への不満が事件の背景にある疑いもあるとみて、詳しいいきさつを調べています。
http://www3.nhk.or.jp/news/html/20250512/k10014803211000.html
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2025-05-12 03:52:38
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